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薄膜材料の測定・評価

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管理番号 新品 :ODE6005681411
中古 :ODE6005681411-1
メーカー 語学・辞書・学習参考書 発売日 2025/06/29 19:50 定価 19999円
カテゴリ

薄膜材料の測定・評価

膜厚測定の原理 - 測定原理|株式会社フィッシャー・インストル
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ESR法によるSiN極薄膜(<10 nm)の欠陥量評価
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ナノ3D光干渉計測システムVS1800の観察例1 : 日立ハイテク
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薄膜測定・分析機器│薄膜技術と生産力│ジオマテック株式会社
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機能性光学薄膜用スパッタリングターゲット群|JX金属 展示会
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技術情報協会
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